GaN HEMT Epitaksie | Power Wafertech Group

GaN-Wafers

GaN HEMT Epitaxie

GaN HEMT Epitaxialwafer sind präzisionsgezüchtete AlGaN/GaN-Heterostrukturen, die für Hochfrequenz- und Hochleistungsschaltgeräte entwickelt wurden.
  • Substratplattform Saphir, Si, SiC
  • Größe 2"–8"
  • Ausstattung Hochdichte-zweidimensionaler Elektronengas-(2DEG)-Kanal
Detaillierte Spezifikationen

Veröffentlichte Spezifikationen nach Waferdurchmesser.

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ParameterRF HEMT Epi-StrukturPower HEMT Epi-Struktur
PassivierungSiN
DeckschichtGaNGaN
BarriereAlGaNAlGaN / (In)AlN
InterlayerAlNAlN
KanalGaNGaN
PufferGaNGaN
KeimbildungKeimbildungsschichtKeimbildungsschicht
SubstratSaphirSaphir
Größe2”, 4”, 6”2”, 4”, 6”
Anwendungen

Wo dieser Wafer Wert liefert

01

HF-Leistungsverstärker

GaN-on-SiC- oder GaN-on-Si-HEMT-Epiwafer für 5G/6G-Infrastruktur, Satellitenkommunikation und Radarsysteme

02

Schnellladeadapter

GaN-on-Si HEMT-Epiwafer für Smartphones, Laptops und Unterhaltungselektronik

03

Leistungsumwandlung

GaN-on-Si- oder GaN-on-saphir-HEMT-Epiwafer für Server-Netzteile, industrielle Motorantriebe, Wechselrichter für erneuerbare Energien (Solar, Wind)

04

Elektrofahrzeuge

GaN-on-Si HEMT Epiwafer für Onboard-Ladegeräte (OBC), DC-DC-Wandler

FAQ

Häufige Fragen zu diesem Produkt

Schnelle Antworten zur Materialauswahl, Anpassung, Prüfung und Bestellung.

Die drei Plattformen bieten unterschiedliche Kombinationen aus thermischer Leistung, Wafergröße, Kosten und Geräteanwendung: GaN-on-Si: attraktiv für skalierbare Leistungselektronik und kostenempfindliche Anwendungen. GaN-on-SiC: ausgezeichnete thermische Leistung und häufig für Hochleistungs-RF-Anwendungen ausgewählt. GaN-on-Sapphire: Wirtschaftliche Plattform für die Entwicklung von GaN-Geräten und ausgewählte Leistungs-/RF-Anwendungen.

Ja. Die Zusammensetzung und Dicke der AlGaN-Barriere können entsprechend den erforderlichen 2DEG-Eigenschaften und dem Bausteindesign angepasst werden. AlGaN/(In)AlN-Barrierestrukturen können auch für spezifische Anwendungen in Betracht gezogen werden.

Technische Untersuchung

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